111/10/31-飛行時間式二次離子質譜儀實務應用研討會 10:00-10:50（中文） 11:00-11:50（English）111/10/31-TOF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer) Seminar 10:00-10:50(Mandarin) 11:00-11:50(English)

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研討會名稱	(Venue Update)-111/10/31-飛行時間式二次離子質譜儀實務應用研討會 10:00-10:50(中文) 11:00-11:50(English)
開始日期	2022-10-31 10:00:00
結束日期	2022-10-31 12:00:00
活動說明	敬邀參加 111/10/31-飛行時間式二次離子質譜儀實務應用研討會 10:00-10:50（中文） 11:00-11:50（English）課程時間：111年10月31日 10:00-10:50（中文） 11:00-11:50（English）課程地點：Dream building 2F & Online （地點修改）報名截止日期：111年10月30日報名請至：http://ic.xms.tmu.edu.tw/xms/index.php?view=content_show&id=2848 由於場地大小有限，請盡速報名。另外請需要認列人才發展系統學習時數的老師（教學）/職員（研究發展相關,單位內專業職能）請記得於人才發展系統上報名本課程中/英文擇一參加故僅認列1小時附上連結http://ehrd.tmu.edu.tw/eHRD/eHRDOrg 有任何疑問或指教，煩請您不吝與我們連絡，謝謝您～
主要聯絡Mail	ku@tmu.edu.tw
參考連結	http://ic.xms.tmu.edu.tw/xms/content/show.php?id=2848
附件檔案	700